近日，厦门质检院与厦门大学电子科学与技术学院围绕新型显示领域Mura缺陷检测及Demura校正技术举行了多次专题研讨交流。双方依托前期在Mura检测分析模型研发方面的良好合作基础，聚焦光电产业痛点难点问题开展研讨交流，为强化光电产业检验检测技术支撑、破解新型显示发展瓶颈奠定坚实基础。

　　会上，双方围绕前期Mura检测分析模型研发成果展开深度复盘。厦门质检院结合长期检验检测实践，系统梳理了OLED显示产品Mura缺陷的实测数据特征；厦门大学科研团队则详细汇报了联合开发的Mura检测分析基础模型性能参数、算法迭代历程及实验室验证效果，双方针对实测数据与模型适配性问题提出优化思路。双方还就Mura指数算法、Demura校正技术等产业关切点展开热烈研讨。

　　本次研讨精准锚定产业需求，形成两点核心内容：一是构建 “Mura数据采集-算法优化-效果验证”闭环体系，由厦门质检院持续提供覆盖不同应用场景的Mura缺陷实测样本库，厦门大学针对性开展Mura模型算法迭代，同步完成实验室仿真，最后再由厦门质检院进行模型效果验证；二是组建联合小组，重点突破微型OLED显示模块Demura校正等关键技术，破解新型显示发展瓶颈问题。

　　此次研讨是厦门质检院与厦门大学深化“产学研”融合的重要举措之一，通过整合检验检测机构的检测数据优势与高校的技术研发优势，精准破解新型显示产业瓶颈问题。下一步，双方将继续加强合作，推动技术成果转化为实际服务能力，为光电产业高质量发展提供有力技术支撑。